TOF-SIMS study on surface modification of reed switch blades by pulsing nitrogen plasma

TOF-SIMS study on surface modification of reed switch blades by pulsing nitrogen plasma

14.05.2013

A TOF.SIMS-5 by ION-TOF operating with pulsed 25 keV Bi+ for analysis and 2 keV Cs+ for sputtering was
used to study depth compositional changes in near-surface layers of permalloy (iron–nickel) blades after
treatment by pulsed nitrogen plasma directly in sealed reed switches. The formation of 350 nm-thick
oxy-nitride coating in the contacting region of the blades was observed. It was found that the origin
of this coating cannot be explained just by nitrogen and oxygen diffusion inside the treated material.
Rather, cathode sputtering and re-deposition of sputtered products, thermal decomposition of nitrides
and oxides along with sputter-induced surface roughening can also contribute in the formation of the
modified layers.


← К списку публикаций

 

Система менеджмента качества сертифицирована ISO 9001:2015

В составе холдинга Росэлектроника

«Горячая линия» - система сбора информации для борьбы с мошенничеством, хищениями и коррупцией

Новости

05.12.2018

Успейте купить по выгодной цене!
АО «РЗМКП» проводит распродажу складских остатков герконов и солнечных модулей. Информацию по ассортименту и актуальным ценам можно получить на нашем сайте или по телефонам (4912) 44-19-70; (4912) 24-97-89.

30.11.2018

АО «РЗМКП» вошел в число лучших экспортеров Рязани
29 ноября в рамках делового форума «Дни международного бизнеса в Рязанской области» состоялось награждение лучших экспортеров региона