TOF-SIMS study on surface modification of reed switch blades by pulsing nitrogen plasma

TOF-SIMS study on surface modification of reed switch blades by pulsing nitrogen plasma

14.05.2013

A TOF.SIMS-5 by ION-TOF operating with pulsed 25 keV Bi+ for analysis and 2 keV Cs+ for sputtering was
used to study depth compositional changes in near-surface layers of permalloy (iron–nickel) blades after
treatment by pulsed nitrogen plasma directly in sealed reed switches. The formation of 350 nm-thick
oxy-nitride coating in the contacting region of the blades was observed. It was found that the origin
of this coating cannot be explained just by nitrogen and oxygen diffusion inside the treated material.
Rather, cathode sputtering and re-deposition of sputtered products, thermal decomposition of nitrides
and oxides along with sputter-induced surface roughening can also contribute in the formation of the
modified layers.


← К списку публикаций

 

Система менеджмента качества сертифицирована DIN EN ISO 9001-2008 № 15 100 21437

В составе холдинга Росэлектроника

«Горячая линия» - система сбора информации для борьбы с мошенничеством, хищениями и коррупцией

Новости

24.05.2017

Расширение линейки герконов в пластмассовом корпусе!
Специалисты АО «РЗМКП» представляют Вашему вниманию новинки 2017 года

27.04.2017

Неделя без турникетов
В рамках Всероссийской профориентационной акции «Неделя без турникетов», проводимой с 17 по 23 апреля 2017 года, учащиеся школ № 35, 44, 53, 63 города Рязани и студенты Рязанского колледжа электроники, а это более 100 человек, посетили основные производственные участки, музей АО «Рязанский завод металлокерамических приборов». В ходе проводимых экскурсий учащиеся узнали об истории и традициях предприятия, познакомились с процессом производства. Перед ними выступили руководители структурных подразделений, ведущие специалисты, высококвалифицированные рабочие. В плане закрепления полученной информации о предприятии каждому участнику были вручены буклеты, памятные сувениры с символикой завода.